mems材料刻蚀加工——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,立足于广东省经济社会发展的实际需要,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
在半导体器件制造中,蚀刻是指选择性地从衬底上的薄膜去除材料并通过这种去除在衬底上创建该材料的图案的技术。该图案由一个能够抵抗蚀刻过程的掩模定义,其创建过程在光刻中有详细描述。一旦掩模就位,湖北感应耦合等离子刻蚀材料刻蚀,就可以通过湿化学或“干”物理方法蚀刻不受掩模保护的材料。
从历看,湿化学方法在用于图案定义的蚀刻中发挥了重要作用,随着器件特征尺寸的减小,表面形貌变得关键,感应耦合等离子刻蚀材料刻蚀外协,湿化学蚀刻让位于干蚀刻技术。这种转变主要是由于湿蚀刻的各向同性。
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反应离子蚀刻
反应离子蚀刻(以下简称rie)使用了化学和物理反应来移除衬底表面的材料,它是能产生定向蚀刻的基本工艺
高度各向---的蚀刻工艺能够通过rie中伴随等离子化学反应蚀刻同时发生的带能离子轰击获得
rie工艺之所以能够获得高度各向---的蚀刻是因为朝向衬底轰击的离子受到了负偏置衬底的加速作用,同时衬底表面发生着高蚀刻速率的化学反应.
离子轰击的协同效应增加了化学反应的速率(帮助反应物获得能量离开衬底表面 被真空系统抽走)
在ar+离子束与xef2的共同作用下硅的蚀刻速率明显比单独使用ar+离子束或xef2气体的蚀刻速率要快
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二氧化硅腐蚀机理为:
h2sif6(六)是可溶于水的络合物,感应耦合等离子刻蚀材料刻蚀加工,利用这个性质可以很容易通过光刻工艺实现选择性腐蚀二氧化硅。为了获得稳定的腐蚀速率,腐蚀二氧化硅的腐蚀液一般用hf、nh4f与纯水按一定比例配成缓冲液。
由于基区的氧化层较发射区的厚,感应耦合等离子刻蚀材料刻蚀加工工厂,以前小功率三极管的三次光刻(引线孔光刻)一般基极光刻和发射极光刻分步光刻,现在大部分都改为一步光刻,只有少部分品种还分步光刻,比如2xn003,2xn004,2xn013,2xp013等。但是由于基区的氧化层一般比发射区的厚,所以刻蚀时容易发生氧化区的侵蚀。
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